アプリケーション例
- ・宇宙用コーティング:α/ε(吸収率/放射率)評価、熱制御設計
- ・集光型太陽エネルギー用途の光学系評価
- ・防衛・航空宇宙分野:赤外線シグネチャ評価、低視認性塗装およびコーティングの検証
- ・輻射熱伝達:熱解析のための吸収率評価
- ・半導体製造装置:ウェーハプロセス装置における各構成部材の熱放射率の評価
- ・天文学;高精度な鏡面評価
- ・建築材料/省エネ設計:TSR、SRI、ASTM、LEED、CRRC
SOC-410-Solar/SOC-410-Solar-i
測定データ、測定性能
|
SOC-410-Solar |
SOC-410-Solar-i |
測定パラメータ |
指向性半球反射率(DHR) |
測定方式 |
指定入射角における波長帯域内の全反射率の積分測定 |
算出方式 |
全日射反射率、全日射吸収率、鏡面反射率 |
全日射反射率、全日射吸収率 |
測定値 |
絶対反射率(0~1)、拡散反射率 |
絶対反射率(0~1) |
波長帯域 |
335~380 nm、400~540 nm、480~600 nm、590~720 nm、
700~1100 nm、1000~1700 nm、1700~2500 nm |
ASTM規格 |
C1549/E198/ E903 |
照射角 |
20° |
校正板 |
鏡面板、拡散板 |
光沢セラミック板 |
測定精度 |
+/- 0.02 |
再現性 |
+/- 0.005 units |
ビームスポット径 |
0.25インチ |
0.50インチ |
ビームアングル |
半頂角3° |
N/A |
測定時間 |
10 秒 |
7秒 |
標準日射スペクトル |
Air Mass 0 (AM) Extraterrestrial irradiance (ASTM E490-00)
Hazy sky AM1.5 beam-normal irradiance (ASTM E891-87)
Clear sky AM1 global horizontal irradiance (SMARTS 2.9.5)
Clear sky AM1.5 global irradiance surface tilted 37° (ASTM G173-03)
Clear sky AM1.5 global irradiance surface tilted 20° (ASTM G197-14)
Clear sky AM1.5 global irradiance surface tilted 90° (ASTM G197-14)
Clear sky AM1.5 global horizontal irradiance (SMARTS 2.9.5)
Clear sky AM2.0 global horizontal irradiance (SMARTS 2.9.5)
|
サンプルサイズ、形状 |
平面:≥直径 0.5インチ
曲面: 凸型6インチ、凹型12インチ
|
ウォームアップ時間 |
90 秒 |
連続測定時間間隔 |
2 秒 |
サンプル温度 |
室温または0~100℃に加熱/冷却 |
動作温度範囲 |
0~40℃ |
電力関連
連続運転時間 |
充電式NiMHバッテリー(2時間稼働) |
バッテリー充電時間 |
1時間 |
IR光源 |
タングステンフィラメント(ユーザによる温度制御可) |
使用環境
保管温度 |
-25 ~70°C |
使用温度 |
0 ~40°C |
寸法
重量 |
4.7 lbs (2.1kg) |
サイズ |
H 11.54"、 L 9.04"、 W 3.27"
(29.31 x 22.96 x 9.44 cm)
|
インタフェース
制御用インタフェース |
LCDグラフィックスクリーン、1/4 VGA、タッチスクリーン、
ソフトウェアボタン(ハンドルのトリガスイッチ) |
検査用アプリケーション |
ユーザ任意設定値における合否判定 |
診断機能 |
画面上にてステータスと信号をモニタ、
データと共にステータス信号を保存、
生データと保存と表示
|
データ
データ形式 |
保存データはExcel、Textソフトにて展開可能 |
データ保存 |
SDカード(取り出し可能) |
輸出規制 |
ECCN #3A999.F |
ET-100
測定データ
測定パラメータ |
指向性半球反射率(DHR) |
測定方式 |
指定入射角における波長帯域内の全反射率の積分測定 |
測定値 |
絶対反射率 (0~1) |
算出値 |
指向性熱放射率(20°/60°)、半球熱放射率 |
波長帯域 |
1.5~2.0μm、2.0~3.5μm、3.0~4.0μm、
4.0~5.0μm、5.0~10.5μm、10.5~21.0μm
|
照射角 |
20°/60° |
ASTM規格 |
E408/E1980 |
校正板 |
鏡面ゴールド板 |
測定性能
測定精度 |
+/- 0.03 |
再現性 |
+/- 0.005 units |
ビームスポット径 |
0.50インチ |
測定時間 |
10秒 |
サンプルサイズ、形状 |
平面:≥直径 0.5インチ
曲面: 凸型6インチ、凹型12インチ
|
ウォームアップ時間 |
90 秒 |
連続測定時間間隔 |
2 秒 |
サンプル温度 |
室温または0~100℃に加熱/冷却 |
動作温度範囲 |
0~40℃ |
電力関連
連続運転時間 |
充電式NiMHバッテリー(2時間稼働) |
バッテリー充電時間 |
1時間 |
IR光源 |
カンタルフィラメント(約1,000℃) |
使用環境
保管温度 |
-25 ~70°C |
使用温度 |
0 ~40°C |
寸法
重量 |
4.7 lbs (2.1kg) |
サイズ |
H 11.54"、 L 9.04"、 W 3.27"
(29.31 x 22.96 x 9.44 cm)
|
インタフェース
制御用インタフェース |
LCDグラフィックスクリーン、1/4 VGA, タッチスクリーン、
ソフトウェアボタン(ハンドルのトリガスイッチ)
|
検査用アプリケーション |
ユーザ任意設定値における合否判定 |
診断機能 |
画面上にてステータスと信号をモニタ、
データと共にステータス信号を保存、
生データと保存と表示
|
データ
データ形式 |
保存データはExcel、Textソフトにて展開可能 |
データ保存 |
SDカード(取り出し可能) |
輸出規制 |
ECCN #3A999.F |
*本ページ内では、用語の日本語訳として下記のように表記しています。
Directional hemispherical reflectance (指向性半球反射率)
Directional thermal emissivity(指向性熱放射率)
hemispherical thermal emissivity(半球熱放射率)
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