測定内容
分野
2次元輝度計 Helios Yは、ピクセルレベルまたはサブピクセルレベルの画素欠陥（輝点・欠点）を測定することが可能な高感度で高解像度の6500万画素のCMOSセンサと、アドメシー社製のレンズ角度効果を補正可能な干渉型Yフィルタ(特許出願中)、低輝度にも対応可能な大口径レンズで構成された測定機です。10GigE イーサネットを採用しているため、6500万画素という大容量のデータであっても高速演算、高速伝送を可能とします。Helios Yは精度や測定スピードが重要視される産業において最適な2次元輝度計を開発しました。
・低輝度にも対応可能な大口径レンズを採用
・特許出願中の角度効果補正された高精度なフィルタを搭載
・レンズの絞りとフォーカスをソフトウェアにて容易に制御
・様々な口径レンズに対応可能なフラットフィールド補正機能
・各焦点距離に対応した自動フラットフィールド補正機能
・用途毎のレンズとフィルタを選択可能
・微小範囲の測定を可能にした9344 x 7000画素COMSセンサを採用
・簡便な暗電流補正
・10GigE イーサネット採用による高速な測定を実現
