測定内容
分野
インターナショナルライトテクノロジーズ社のILT800シリーズはUV域に特化した放射照度計です。UV硬化、滅菌/殺菌、半導体リソグラフィー等のUV照射プロセス装置内部に設置してUV光のモニタ・管理を行うことができます。最速3000データ/secの高速測定が可能で、CW光だけでなくパルス光の測定にも対応可能です。測定波長レンジの異なる6モデルをご用意していますので、ご検討の測定波長に合わせ最適な仕様をお選びいただけます。全てのモデルにNISTトレーサブルかつISO/IEC17205:2017に準拠した、信頼性の高い校正データが付属します。
また、ILT800シリーズはOEMにも最適です。ご要望の仕様に合わせディテクタやフィルタの特注対応が可能です。装置組み込みをご検討の際にはぜひご相談ください。
・最大1000データ保存可能
・保存データを本体ディスプレイにて表示可能
・UV照射プロセス装置内部に設置してのリアルタイム測定
・UV光の照射時のみ測定を行うオートモード機能
・保存データをPCに転送可能
・PC用ソフトウェアCureRightにてデータ解析が可能
・幅広い測定ダイナミックレンジ(mW/cm2 ～ 40W/cm2)
・ユーザフレンドリーな簡便操作
・測定データをディスプレイ上にてグラフィック表示
・最速3000データ/sec
・最長10秒の積分時間(微弱光の測定にも対応)
・CWとパルス光に対応可能
・データのマッピングに対応(Face Horizontally, Vertically, Up and Down)
・リニアな感度特性(波長帯域選択は不要)
・NISTトレーサブルかつISO17025に準拠した校正データが付属
・OEM用カスタム対応可能
| ・UV硬化 | ・滅菌、消毒 | ・半導体リソグラフィー | ・ベルトコンベア |
| ・オーブン | ・フラッドライト | ・スポットライト | ・ファイバ出力光源 |
| ・コリメートビーム | ・3D印刷 | ・UVランプやLED(CW、パルス) |
| 型番 | 波長範囲 |
|---|---|
| ILT800-UVA | 315～390 nm |
| ILT800-BAV | 275～475 nm |
| ILT800-UV | 250～400 nm |
| ILT800-UVC | 215～350 nm |
| ILT800-UVF (UV-LED) | 360～400 nm Flat, (275～450 nm) |
| OEM/特注対応 | お問い合わせください |
| ダイナミックレンジ | 4.5桁 (mW/cm2～40W/cm2) |
|---|---|
| 測定項目 | mW/cm2、mJ/cm2、W/cm2、J/cm2 & profile/graph,日時、温度 |
| センサ | Linear, solid state GaAsp & Sic |
| サイズ | 102 x 152 x 12.7 mm (L x W x H) |
| ディスプレイ | 19 x 71 mm OLED |
| 電源供給 | Micro USB, 充電式バッテリー |
| 使用可能温度 | 0～75℃ |
| 受光方式 | コサインコレクタディフューザー |
| メモリ | 400,000 data points |
ILT800 CureRightシリーズは様々な測定ニーズを考慮し多彩な測定機能を備えています。UV硬化だけでなく、滅菌/消毒、半導体リソグラフィー、ベルトコンベア、オーブン、フラッドライト、スポットライト、ファイバ出力光源、コリメートビーム、3D印刷、UVランプやLED(CW、パルス)等、様々な用途に使用されるUV照射光の測定が可能です。標準機能としてプロファイリング、各種測定モード(自動/手動/ライブの3モード)、最小閾値設定、任意の測定間隔の設定等の機能があり、ユーザ独自の設定が可能です。
測定結果は本体OLEDディスプレイに表示されます。また、以前に保存したデータを読み込みOLEDディスプレイに表示する事も可能です。測定機本体でデータの確認/保存ができるため、測定値のリアルタイムモニタを実現します。ランプやリフレクターの汚れ/ずれ、ランプ出力の低下、ランプの故障、電源供給の問題等、UV照射光の問題点の特定ができます。また、測定結果をPCにダウンロードして、より詳細なデータ解析を行う機能も有しています。専用ソフトウェアData Light CureRightを使用することで、データをダウンロードしPCで表示するだけでなく、独自の解析ツールを使用してスプレッドシートやレポートを作成できます。また、測定対象を管理する為のデバイスIDと呼ばれる機能があります。デバイスIDを使用する事で最大20個のタグをシステム/光源毎にプログラムすることができ、デバイスID単位での測定結果の表示、エクスポートが可能となります。
