測定内容
分野
ラブスフェア社製 500Mサンプル/秒 高速パルスレーザパワー測定システム LPMS-200Mシリーズは、高速パルスレーザ(500Mサンプル/秒)の測定に対応したレーザパワーメータ測定システムです。本システムは可視から近赤外までをカバーした積分球とディテクタ、プリアンプ、米国NISTに準拠した校正データとソフトウェアで構成されています。積分球を使用することによりレーザのジオメトリや偏光による影響を受けずに測定を行えます。
ディテクタは、可視に対応したSiliconと近赤外に対応したInGaASの２種類を用意しており、ご選択が可能です。いずれのディテクタも高感度、低ノイズ、高安定性な特性を持ち、パルスレーザに対応できる500Mサンプル/秒を達成しており、最大16bitに対応したプリアンプに接続して使用します。
付属のソフトウェアにて、レーザのピークパワー、平均パワー、周波数、パルス幅など、さまざまなパラメータを測定でき、測定結果はPCに保存もしくは外部機器にエクスポートすることが可能です。ユーザが独自ソフトを開発できるようにオープンAPIも提供します。
＜特徴＞
最大サンプリングレート500Mサンプル/秒
対応帯域幅 200 MHz
最大16ビットの解像度
NISTに準拠したパワー校正
外部トリガ入力が可能
SiliconとInGaASのディテクタの同時使用が可能
オープンAPIによるソフトウェア機能の拡張性
近年パルスレーザのアプリケーションは拡大の一途をたどり、光通信や精密加工、バイオテクノロジー、3次元センサなど、次々に新しい用途に使われています。それに伴い、パルスレーザのパワーの出力が時間とともに変化するという課題に直面しており、極短時間でピークパワー、平均パワー、パルス幅などの測定や分析が必須となっています。
ラブスフェア社は、創業より40年以上も光学測定システムの開発に携わっており、パルスレーザの測定や分析をするために今回新たにLPMS-200Mシリーズ 500Mサンプル/秒 高速パルスレーザパワー測定システムを開発しました。このシステムは製品開発や生産ラインの品質検査にお使い頂ける最適なソリューションです。
以下のパルスレーザの性能試験にお使い頂けます。
・光通信 ・精密加工 ・溶接 ・医療 ・バイオイメージング ・3次元センサ ・表面改質 ・薄膜形成 ・パターニング
・積分球
・プリアンプ ・ディテクタ（SiliconもしくはInGaAS） ・NIST準拠パワー校正データ（波長は仕様表を参照） ・ソフトウェア
・１画面ですべてのパラメータを設定、結果の読み取りなどを操作
・校正係数の変更 ・ダークノイズの減算 ・単一測定と連続スキャンを選択 ・ソフトウェアトリガとハードウェアトリガを切り替え
