測定内容
分野
ハイパースペクトルカメラ SOC710シリーズは、可視域～近赤外域に対応した、コンパクトサイズで汎用性が高く、かつ高性能なハイパースペクトルカメラです。研究室、フィールドでの使用に加え、検査装置組込み、顕微鏡、温室、タワー設置等のアプリケーションに最適です。
従来のラインスキャン型ハイパースペクトルイメージングシステムは、研究室やフィールドでの使用時に、測定サンプルをカメラの前に移動させる必要があり、外部ステージ等のハードウェアが複数必要でした。SOC-710シリーズはセンサがレンズの後ろで移動する内部機構になっているため、測定サンプルを移動することなく高精度な測定を実現します。この内部移動により、ユーザ側での速度と露出の設定の計算が不要となり、外部ステージも使用せずに測定することが出来ます。
・用途に合わせて３機種から最適な仕様を選択
・独自の内部スキャン設計により外部ステージが不要
・高いスキャンニング精度を持つ為、同じ測定対象を異なるゲインで測定する事が可能で、
高いダイナミックレンジを実現
・外部ステージを使用してのラインスキャンと測定器の内蔵スキャンの両モードで操作が可能
・プレビュー用カメラにて測定対象のフレーミングとフォーカスの調整が可能
・測定データはENVIやMATLAB等のデータ解析ソフトウェアで展開が可能
| SOC-710-E | SOC-710-sCMOS | SOC-710-SWIR | |
|---|---|---|---|
| 測定波長範囲 | 400～1100nm | 400～1100nm | 900～1700nm |
| 波長分解能 | 2.31nm | 2.34nm | 2.86nm / 5.71nm |
| スペクトルチャンネル数 | 260 | 256 | 280 / 140 |
| センサ材質 | Silicon / CMOS | Silicon / CMOS | InGaAs |
| 空間ピクセル数 (Max / Normal) | 1392 / 696* | 2048 / 1024 | 640 x 512 |
| ダイナミックレンジ | 66 dB / 12-Bit ADC | Up to 87db / 16-bit ADC | 274.5 dB / 12-Bit ADC |
| ビット深度 | 12 / 16 | 16 / 16 | 14 / 16 |
| Noise Equivalent Spectral Radiance (NESR)* | 1.258E-03 W/m**2-sr-nm @ 550nm | 2.8765E-03 W/m**2-sr-nm @ 550nm | 1.258E-03 W/m**2-sr-nm @ 550nm* |
| 開口数(f値) | 2.8 | 2.8 | 2.0 |
| F-Stop Radiometric Calibration | f4 | f4 | f4 |
| レンズ | C-Mount / NIR Corrected | C-Mount / NIR Corrected | C-Mount / SWIR Corrected |
| 空間分解能(Avg. RMS Spot Radius) | < 40 microns | < 40 microns | < 15 microns |
| 迷光 | < 0.5% | < 0.5% | < 0.5% |
| データキューブ収集速度(max/normal) | 100 / 30 frames/lines per second* 6.96 / 23.2 sec/cube** | 40 frames/lines per second* 51.2/25.6 sec/cube | 80 frames/lines per second 8 sec/cube |
| ピクセルピッチ | 6.45 microns | 6.5 microns | 25 microns |
| インターフェース | USB 2.0 | USB 3.0 | USB 2.0 |
| 重量 | 3.85 Kg (8.5 lbs) | 3.85 Kg (8.5 lbs) | 5.44 Kg (12 lbs) |
| 寸法(HWL) | 12.7 x 20.3 x 28 cm | 12.7 x 20.3 x 28 cm | 13 x 20 x 27 cm |
| 電力 | 12-VDC / 100-240 VAC (50-60 Hz) | 12-VDC / 100-240 VAC (50-60 Hz) | 12-VDC / 100-240 VAC (50-60 Hz) |
